Для получения информации об интересующем Вас приборе нажмите на его название.
Вы можете сразу ПОДАТЬ ЗАЯВКУ или связаться с нами другим удобным для Вас способом, воспользовавшись страницей КОНТАКТЫ. При подаче заявки Вы также можете просто сформулировать свою задачу, не выбирая прибор, а сотрудники ЦКП самостоятельно определят с помощью какого оборудования оптимальнее её решить.
Рентгеновские дифрактометры
Рентгеновский порошковый дифрактометр позволяет недеструктивно анализировать кристаллические объекты. Прибор позволяет проводить качественный и количественный анализы широкого круга объектов (стали, цветные металлы, керамики, цементы, минералы, промышленные образцы и т.д.).
Технические характеристики
- анод: Cu (CuKα 1.54056Å);
- рентгенооптическая схема: Брэгг-Брентано;
- максимальная мощность: 3 kW;
- воспроизводимость угла: ±0.001° (2θ);
- минимальный шаг сканирования: 0.002° (2θ);
- диапазон сканирования: -6±163° (2θ);
- скорость сканирования: 0,1÷50°/min (2θ);
- максимальная скорость вращения гониометра: 1000°/min
- детектор: OneSight высокоскоростной широкоугольный детектор, количество каналов: 1280.
- радиационный фон: менее 1 мЗв/час при максимальной мощности, дифрактометр поставляется с санитарно-эпидемиологическим заключением.
Для заказа услуг с применением данного оборудования Вы можете ПОДАТЬ ЗАЯВКУ на сайте или связаться с нами другим удобным для Вас способом, воспользовавшись страницей КОНТАКТЫ.
Рентгенофлуоресцентные спектрометры
Прибор позволяет осуществлять качественный и количественный анализ в диапазоне от кислорода O до урана U за 2.5 минуты. В работе спектрометра реализован ряд новых патентованных технологий, например, качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков, а также определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния.
Технические характеристики
- диапазон определяемых элементов: от кислорода до урана;
- рентгеновский генератор: Rh-анод с тонким торцевым окном, мощность 4 kW;
- автосамплер: 8-позиционный;
- облучение образца: cверху; образец вращается со скоростью 60 об/мин;
- первичные фильтры: автоматическая смена Al/Ti/Ni/Zr/без фильтра;
- апертуры: автоматическая смена 5 типов: 500 µm, 3, 10, 20, 30 mm;
- локальный анализ: 0.5 mm диаметр, цифровая камера для контроля области анализа; количественный анализ в точке, картирование с шагом 250 µm, распределение по интенсивностям/концентрациям;
- сменщик кристаллов: автоматическая смена 10 кристаллов в двух направлениях;
- кристаллы-анализаторы: LiF (200), PET, Ge, ТАР стандартные; LiF (220), SX-52, SX-1, SX-14, SX-88, SX-98, SX-76, SX-410 (опционально);
- детекторы: Сцинтилляционный счётчик (SC) для тяжёлых элементов, проточный пропорциональный счётчик (FPC) для лёгких элементов;
- контроль степени разрежения: стабилизатор вакуума.
Количественный анализ
- метод фундаментальных параметров (ФП);
- метод фоновых ФП для расчёта толщины и состава плёнок;
- метод калибровочных кривых;
- матричная коррекция (5 методов);
- расчет коэффициентов матричной коррекции методом SFP;
- измерение интенсивностей пиков и интегральных интенсивностей;
- программа сопоставления состава по библиотекам пользователя.
Качественный анализ
- измерение линий высших порядков;
- автоматический контроль чувствительности;
- сглаживание, коррекция фона, поиск пиков и их автоматическая идентификация, разделение пиков, расчёт фона по 16 точкам;
- редактирование пиков (добавление/вычитание, маркировка, листинг вероятных элементов для неизвестных пиков), наложение до 8 спектров, изменение шкалы измерений (угол 2θ, длина волны, энергия, линейный и логарифмический масштабы интенсивности излучения).
Для заказа услуг с применением данного оборудования Вы можете ПОДАТЬ ЗАЯВКУ на сайте или связаться с нами другим удобным для Вас способом, воспользовавшись страницей КОНТАКТЫ.
Электронные микроскопы
Назначение
- получение изображения поверхности с нанометровым разрешением;
- локальное определение состава широкого спектра химических соединений и материалов (керамики, сплавы, полимеры, биологические образцы).
Технические характеристики
- разрешение в режиме высокого вакуума:
— 3,0 нм при ускоряющем напряжении 30кВ,
— 15,0 нм при ускоряющем напряжении 1кВ; - разрешение в режиме низкого вакуума: 4,0нм при ускоряющем напряжении 30 кВ;
- диапазон значений ускоряющего напряжения: от 300 В до 30 кВ;
- диапазон увеличений: от 5 до 300000 крат в пересчете на размер отпечатка 10 x 12 см.
Оснащен
- энергодисперсионным спектрометром (Oxford Inst.) — Пельтье-охлаждаемый (без использования жидкого азота), с площадью детектора 20 мм2, с энергетическим разрешением по Kα-линии марганца (ПШПВ) 127 эВ;
- cпектрометром с дисперсией по длинам волн (Oxford Inst.) — полностью фокусированный, с радиусом окружности Роуланда 210 мм и диапазоном углов 2-тета гониометра от 33 до 135 градусов;
- низковакуумным детектором вторичных электронов;
- шлюзом для загрузки образцов.
Для заказа услуг с применением электронного микроскопа JEOL Вы можете ПОДАТЬ ЗАЯВКУ на сайте или связаться с нами другим удобным для Вас способом, воспользовавшись страницей КОНТАКТЫ.
