Рентгеновские дифрактометры, рентгенофлюоресцентные спектрометры, электронные микроскопы

logo

Для получения информации об интересующем Вас  приборе нажмите на его название.

Вы можете сразу ПОДАТЬ ЗАЯВКУ или связаться с нами другим удобным для Вас способом, воспользовавшись страницей КОНТАКТЫ. При подаче заявки Вы также можете просто сформулировать свою задачу, не выбирая прибор, а сотрудники ЦКП самостоятельно определят с помощью какого оборудования оптимальнее её решить.

Рентгеновские дифрактометры

xrd6100

Рентгеновский порошковый дифрактометр позволяет недеструктивно анализировать кристаллические объекты. Прибор позволяет проводить качественный и количественный анализы широкого круга объектов (стали, цветные металлы, керамики, цементы, минералы, промышленные образцы и т.д.).

Технические характеристики

  • анод: Cu (CuKα 1.54056Å);
  • рентгенооптическая схема: Брэгг-Брентано;
  • максимальная мощность: 3 kW;
  • воспроизводимость угла: ±0.001° (2θ);
  • минимальный шаг сканирования: 0.002° (2θ);
  • диапазон сканирования: -6±163° (2θ);
  • скорость сканирования: 0,1÷50°/min (2θ);
  • максимальная скорость вращения гониометра: 1000°/min
  • детектор: OneSight высокоскоростной широкоугольный детектор, количество каналов: 1280.
  • радиационный фон: менее 1 мЗв/час при максимальной мощности, дифрактометр поставляется с санитарно-эпидемиологическим заключением.

Для заказа услуг с применением данного оборудования Вы можете ПОДАТЬ ЗАЯВКУ на сайте или связаться с нами другим удобным для Вас способом, воспользовавшись страницей КОНТАКТЫ.

Рентгенофлуоресцентные спектрометры

xfs

Прибор позволяет осуществлять качественный и количественный анализ в диапазоне от кислорода O до урана U за 2.5 минуты. В работе спектрометра реализован ряд новых патентованных технологий, например, качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков, а также определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния.

Технические характеристики

  • диапазон определяемых элементов: от кислорода до урана;
  • рентгеновский генератор: Rh-анод с тонким торцевым окном, мощность 4 kW;
  • автосамплер: 8-позиционный;
  • облучение образца: cверху; образец вращается со скоростью 60 об/мин;
  • первичные фильтры: автоматическая смена Al/Ti/Ni/Zr/без фильтра;
  • апертуры: автоматическая смена 5 типов: 500 µm, 3, 10, 20, 30 mm;
  • локальный анализ: 0.5 mm диаметр, цифровая камера для контроля области анализа; количественный анализ в точке, картирование с шагом 250 µm, распределение по интенсивностям/концентрациям;
  • сменщик кристаллов: автоматическая смена 10 кристаллов в двух направлениях;
  • кристаллы-анализаторы: LiF (200), PET, Ge, ТАР стандартные; LiF (220), SX-52, SX-1, SX-14, SX-88, SX-98, SX-76, SX-410 (опционально);
  • детекторы: Сцинтилляционный счётчик (SC) для тяжёлых элементов, проточный пропорциональный счётчик (FPC) для лёгких элементов;
  • контроль степени разрежения: стабилизатор вакуума.

Количественный анализ

  • метод фундаментальных параметров (ФП);
  • метод фоновых ФП для расчёта толщины и состава плёнок;
  • метод калибровочных кривых;
  • матричная коррекция (5 методов);
  • расчет коэффициентов матричной коррекции методом SFP;
  • измерение интенсивностей пиков и интегральных интенсивностей;
  • программа сопоставления состава по библиотекам пользователя.

Качественный анализ

  • измерение линий высших порядков;
  • автоматический контроль чувствительности;
  • сглаживание, коррекция фона, поиск пиков и их автоматическая идентификация, разделение пиков, расчёт фона по 16 точкам;
  • редактирование пиков (добавление/вычитание, маркировка, листинг вероятных элементов для неизвестных пиков), наложение до 8 спектров, изменение шкалы измерений (угол 2θ, длина волны, энергия, линейный и логарифмический масштабы интенсивности излучения).

Для заказа услуг с применением данного оборудования Вы можете ПОДАТЬ ЗАЯВКУ на сайте или связаться с нами другим удобным для Вас способом, воспользовавшись страницей КОНТАКТЫ.

Электронные микроскопы

Микроскоп JEOL

Назначение

  • получение изображения поверхности с нанометровым разрешением;
  • локальное определение состава широкого спектра химических соединений и материалов (керамики, сплавы, полимеры, биологические образцы).

Технические характеристики

  • разрешение в режиме высокого вакуума:
    — 3,0 нм при ускоряющем напряжении 30кВ,
    — 15,0 нм при ускоряющем напряжении 1кВ;
  • разрешение в режиме низкого вакуума: 4,0нм при ускоряющем напряжении 30 кВ;
  • диапазон значений ускоряющего напряжения: от 300 В до 30 кВ;
  • диапазон увеличений: от 5 до 300000 крат в пересчете на размер отпечатка 10 x 12 см.

Оснащен

  • энергодисперсионным спектрометром (Oxford Inst.) — Пельтье-охлаждаемый (без использования жидкого азота), с площадью детектора 20 мм2, с энергетическим разрешением по Kα-линии марганца (ПШПВ) 127 эВ;
  • cпектрометром с дисперсией по длинам волн (Oxford Inst.) — полностью фокусированный, с радиусом окружности Роуланда 210 мм и диапазоном углов 2-тета гониометра от 33 до 135 градусов;
  • низковакуумным детектором вторичных электронов;
  • шлюзом для загрузки образцов.

Для заказа услуг с применением электронного микроскопа JEOL Вы можете ПОДАТЬ ЗАЯВКУ на сайте или связаться с нами другим удобным для Вас способом, воспользовавшись страницей КОНТАКТЫ.