Прибор позволяет осуществлять качественный и количественный анализ в диапазоне от кислорода O до урана U за 2.5 минуты. В работе спектрометра реализован ряд новых патентованных технологий, например, качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков, а также определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния.
Технические характеристики
- диапазон определяемых элементов: от кислорода до урана;
- рентгеновский генератор: Rh-анод с тонким торцевым окном, мощность 4 kW;
- автосамплер: 8-позиционный;
- облучение образца: cверху; образец вращается со скоростью 60 об/мин;
- первичные фильтры: автоматическая смена Al/Ti/Ni/Zr/без фильтра;
- апертуры: автоматическая смена 5 типов: 500 µm, 3, 10, 20, 30 mm;
- локальный анализ: 0.5 mm диаметр, цифровая камера для контроля области анализа; количественный анализ в точке, картирование с шагом 250 µm, распределение по интенсивностям/концентрациям;
- сменщик кристаллов: автоматическая смена 10 кристаллов в двух направлениях;
- кристаллы-анализаторы: LiF (200), PET, Ge, ТАР стандартные; LiF (220), SX-52, SX-1, SX-14, SX-88, SX-98, SX-76, SX-410 (опционально);
- детекторы: Сцинтилляционный счётчик (SC) для тяжёлых элементов, проточный пропорциональный счётчик (FPC) для лёгких элементов;
- контроль степени разрежения: стабилизатор вакуума.
Количественный анализ
- метод фундаментальных параметров (ФП);
- метод фоновых ФП для расчёта толщины и состава плёнок;
- метод калибровочных кривых;
- матричная коррекция (5 методов);
- расчет коэффициентов матричной коррекции методом SFP;
- измерение интенсивностей пиков и интегральных интенсивностей;
- программа сопоставления состава по библиотекам пользователя.
Качественный анализ
- измерение линий высших порядков;
- автоматический контроль чувствительности;
- сглаживание, коррекция фона, поиск пиков и их автоматическая идентификация, разделение пиков, расчёт фона по 16 точкам;
- редактирование пиков (добавление/вычитание, маркировка, листинг вероятных элементов для неизвестных пиков), наложение до 8 спектров, изменение шкалы измерений (угол 2θ, длина волны, энергия, линейный и логарифмический масштабы интенсивности излучения).
Для заказа услуг с применением данного оборудования Вы можете ПОДАТЬ ЗАЯВКУ на сайте или связаться с нами другим удобным для Вас способом, воспользовавшись страницей КОНТАКТЫ.
