Назначение
- получение изображения поверхности с нанометровым разрешением;
- локальное определение состава широкого спектра химических соединений и материалов (керамики, сплавы, полимеры, биологические образцы).
Технические характеристики
- разрешение в режиме высокого вакуума:
— 3,0 нм при ускоряющем напряжении 30кВ,
— 15,0 нм при ускоряющем напряжении 1кВ; - разрешение в режиме низкого вакуума: 4,0нм при ускоряющем напряжении 30 кВ;
- диапазон значений ускоряющего напряжения: от 300 В до 30 кВ;
- диапазон увеличений: от 5 до 300000 крат в пересчете на размер отпечатка 10 x 12 см.
Оснащен
- энергодисперсионным спектрометром (Oxford Inst.) — Пельтье-охлаждаемый (без использования жидкого азота), с площадью детектора 20 мм2, с энергетическим разрешением по Kα-линии марганца (ПШПВ) 127 эВ;
- cпектрометром с дисперсией по длинам волн (Oxford Inst.) — полностью фокусированный, с радиусом окружности Роуланда 210 мм и диапазоном углов 2-тета гониометра от 33 до 135 градусов;
- низковакуумным детектором вторичных электронов;
- шлюзом для загрузки образцов.
Для заказа услуг с применением электронного микроскопа JEOL Вы можете ПОДАТЬ ЗАЯВКУ на сайте или связаться с нами другим удобным для Вас способом, воспользовавшись страницей КОНТАКТЫ.
